Metrologický AFM mikroskop, Bratislavský kraj, hodnota 105.042 Eur

Popis:
- predmetom zákazky je rastrovací silový AFM mikroskop pre analýzu nanočasticových vrstiev
- zariadenie AFM musí spĺňať nasledovné parametre: povrch vzorky je skenovaný hrotom
- rastrovací x y rozsah min. 90x90 µm
- rozsah v osi z min. 9 µm. AFM musí mať spätnú väzbu pre pohyb
- AFM musí obsahovať akustický kryt a aktívne tlmený stolík
- musí mať MFM mód a modul pre externé spracovanie pracovných signálov
- AFM musí byť modulárneho typu a musí umožniť integrovanie do experimentálnej aparatúry na meranie rtg. rozptylu
- mevyhnutnou súčasťou je test na vlastných vzorkách.

Miesto:
- Bratislavský kraj

Hodnota:
- 105.042 EUR

Termín:
- 11. 6. 2010. Čas: 14.00 h.